薄膜厚度均勻性測量儀 參考價：面議
這款薄膜厚度均勻性測量儀采用光譜反射計技術(shù)測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。
薄膜厚度繪圖儀mapping 參考價：面議
這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術(shù)測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，對整個面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)
手持式薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀 參考價：面議
這款手持式薄膜測厚儀是便攜式光學(xué)薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
光學(xué)膜厚儀,光學(xué)薄膜測厚儀 參考價：面議
寬帶光學(xué)膜厚儀是一款臺式光學(xué)薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學(xué)常量折射率n...
顯微薄膜測量儀,進口膜厚儀 參考價：面議
這款顯微薄膜測量儀是一款多功能薄膜測厚儀和顯微分光光度計，可以結(jié)合顯微鏡測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率以及測量薄膜熒光。這款顯微薄膜測試儀通過測...
光學(xué)薄膜測厚儀 參考價：面議
這款光學(xué)薄膜測厚儀采用光譜反射計技術(shù)測量薄膜反射光譜進測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數(shù)，非常適合日常已知膜系膜堆測量。
進口大型晶圓探針臺 參考價：面議
大型晶圓探針臺600LS是專業(yè)為300mm晶圓測試設(shè)計的大尺寸晶圓測試探針臺系統(tǒng),廣泛用于6''晶圓,8''晶圓和12''晶圓探針測試應(yīng)用。
磁場低溫探針臺 參考價：面議
磁場低溫探針臺采用MicroXact低溫磁探針臺技術(shù),滿足電磁鐵、超導(dǎo)磁體或電磁鐵和超導(dǎo)磁體的組合測試應(yīng)用。
進口無氦低溫探針臺 參考價：面議
無氦低溫探針臺CPS-CF是為極低溫探針測試設(shè)計的閉循環(huán)低溫探針臺系統(tǒng),適合低溫下對器件和電路進行探針測試。
半自動真空探針臺 參考價：面議
這款半自動真空探針臺SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探針系統(tǒng)，設(shè)計用于支持在真空或受控氣體環(huán)境中對多達100mm...
磁探針臺 參考價：面議
這款磁探針臺可提供三維磁場控制,滿足磁性控制RF探針測試應(yīng)用.作為磁場探針臺實現(xiàn)了平面磁場的任意操控,方便自旋電子器件探針測試.
進口高溫探針臺 參考價：面議
這款高溫探針臺是為高溫環(huán)境器件測試或真空環(huán)境或氣體環(huán)境器件探針臺分析測試而設(shè)計。
閉循環(huán)低溫真空探針臺 參考價：面議
這款閉循環(huán)低溫真空探針臺是半自動低溫真空探針臺,可在低溫單CCR系統(tǒng)9K，雙CCR系統(tǒng)4.5K和三CCR系統(tǒng)低于4K溫度下測試經(jīng)驗和器件。
進口半自動探針臺 參考價：面議
這款半自動探針臺廣泛用作電動分析探針臺和半自動晶圓探針臺,可測試200mm晶圓,采用重型多功能探針臺平臺制造,配置靈活多樣,具有加熱制冷晶圓夾盤chuck,體式...
進口晶圓測試探針臺 參考價：面議
這款手動型晶圓探針臺廣泛用作分析探針臺和RF探針臺,可測試200mm晶圓,性價比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...
進口分析探針臺 參考價：面議
這款手動型分析探針臺廣泛用作晶圓探針臺和RF探針臺,性價比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件可選擇,適合實驗室半導(dǎo)...
進口手動探針臺 參考價：面議
這款手動探針臺適合150mm尺寸晶圓測試,是經(jīng)濟型探針臺但是具有昂貴探針臺的良好參數(shù)性能，結(jié)構(gòu)緊湊而方便使用,非常適合實驗室半導(dǎo)體器件測試和電路測試應(yīng)用。
微探針臺系統(tǒng),micro probe 參考價：面議
微探針臺系統(tǒng)micro probe system可植入顯微鏡中,把顯微鏡改造成探針臺系統(tǒng),實現(xiàn)微操作和微測量功能。
雙面探針臺,PCBA雙面tan測 參考價：面議
雙面探針臺GTL5050解決電路板PCBA雙面探測的困難-輔光儀器雙面探針臺GTL5050解決電路板PCBA雙面探測的困難-輔光儀器雙面探針臺雙面探針臺GTL5...
進口高溫探針臺,高功率探針tai 參考價：面議
采用signatone探針臺技術(shù)實現(xiàn)300mm尺寸晶圓探針臺測試,屬于半自動RF/DC/CV測試高功率探針臺。
真空變溫探針臺,變溫晶圓測試 參考價：面議
這款真空變溫探針臺是專業(yè)變溫真空晶圓流測試設(shè)計的專業(yè)變溫真空探針臺,滿足晶圓變溫光電測試需要,測試溫度范圍達到液氮溫度 -180℃~600℃,特別適合高溫和極低...
微操作儀系統(tǒng) 參考價：面議
微操作儀系統(tǒng)是為各種實驗微操作設(shè)計的微納操作儀器，電控制所有操作，系統(tǒng)上的抽屜可以存放配件和微型工具。
自動橢圓偏振光譜儀 參考價：面議
自動橢圓偏振光譜儀M300是一種自動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，并具有自動改變?nèi)肷浣堑墓δ堋?
橢圓偏振顯微分光光度計 參考價：面議
橢圓偏振顯微分光光度計MSP集合橢圓偏振光譜儀和顯微光度計功能,適合250-1000nm薄膜膜厚測量,可測量極小斑點的薄膜厚度和折射率,非常適合用于MEMS，半...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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