非接觸遷移率測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
LEIModel1605，是非接觸遷移率測試系統(tǒng)，可對各種半導(dǎo)體材料和器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行測試。無需制樣，消除了樣品制備引起的遷移率變化。
非接觸方塊電阻測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
LEI88 是針對科研類客戶開發(fā)的產(chǎn)品，具備非接觸快速測試方塊電阻和電導(dǎo)率功能。
非接觸Hall和方塊電阻測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
非接觸Hal和方塊電陽測試系統(tǒng)，可對GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導(dǎo)體材料設(shè)計(jì)的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器...
SRP 擴(kuò)展電阻測試 參考價(jià)：面議
SRP 測試系統(tǒng)，采用擴(kuò)展電阻率技術(shù)(SRP)，對載流子濃度和電阻率隨深度的變化做快速測試。
準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)-光致發(fā)光測試設(shè)備 參考價(jià)：面議
準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)-光致發(fā)光可以將QSS準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)少子壽命測試和PL光致發(fā)光技術(shù)相結(jié)合，快速獲得樣品的少子壽命分布圖譜信息。
光致發(fā)光檢測設(shè)備 參考價(jià)：面議
光致發(fā)光主要對材料能帶結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)濃度和缺陷，組分機(jī)理以及材料質(zhì)量進(jìn)行檢測。WT-2000PL專門針對PL應(yīng)用開發(fā)，具有非接觸，快速，可變溫，光斑等特點(diǎn)。
PV-2000A 光伏多功能掃描系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Semilab PV-2000A是業(yè)界功能最（zui）先進(jìn)的，用于晶硅太陽能電池片生產(chǎn)及光伏工藝研發(fā)的非接觸電學(xué)表征系統(tǒng),以滿足硅片到成品電池片不同工藝控制的測...
汞探針測試 參考價(jià)：面議
LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進(jìn)行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。
汞CV測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
汞CV測試系統(tǒng)，用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試;MCV-530L可測最大200mm的樣品。
CV-1500非接觸CV測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
CV-1500，用于測試界面和介電層的科研平臺(tái)，基于SDI Corona-Kelvin技術(shù)，可以進(jìn)行非接觸C-V/I-V測試。
深能級(jí)瞬態(tài)譜測試儀 參考價(jià)：面議
深能級(jí)瞬態(tài)譜儀(DLTS)是檢測半導(dǎo)體材料和器件缺陷和雜質(zhì)的最好技術(shù)手段，它可以測定各種深能級(jí)相關(guān)參數(shù)，如深能級(jí)，俘獲界面，濃度分布等。
納米壓痕測試設(shè)備 參考價(jià)：面議
對小體積樣品材料力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量化測試的關(guān)鍵技術(shù)。
拉曼光譜分析 參考價(jià)：面議
拉曼光譜用來測試材料應(yīng)力，摻雜濃度和sheet& pattem等。從散射光的能量轉(zhuǎn)移，強(qiáng)度和偏振等方面可以獲取樣品豐富信息,如:結(jié)晶取向，組分，機(jī)械應(yīng)力，摻雜和...
原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設(shè)備，可靈活配置和測試，具備優(yōu)異測試穩(wěn)定性和可靠性。
反射譜成像技術(shù) 參考價(jià)：面議
iSR是一種微光斑測試技術(shù)，用于實(shí)時(shí)刻蝕和Halftone工藝中的厚度測試
光譜型橢偏儀 參考價(jià)：面議
光譜型橢偏儀是多功能薄模測試系統(tǒng)，適合各種薄材料的研究。
少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對超低溫有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被廣泛用于化合物材料的缺陷，雜質(zhì)和...
WT-2000半導(dǎo)體多功能測試 參考價(jià)：面議
WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發(fā)光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學(xué)參數(shù)測試。
WT-1200A 單點(diǎn)式少子壽命測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
WT-1200A 是單點(diǎn)式少子壽命測試系統(tǒng)，具備無接觸等優(yōu)點(diǎn)。
高速相位差測量裝置 RE-200 參考價(jià)：面議
● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差● 光軸檢出同時(shí)可高速測量相位差(Re.)（相當(dāng)于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理）● 無驅(qū)動(dòng)部，重復(fù)再現(xiàn)性高●...
高速LED光學(xué)特性儀 LE series 參考價(jià)：面議
●與產(chǎn)線的控制信號(hào)同步●通過光纖的自由的測試系統(tǒng)●實(shí)現(xiàn)最短2ms～的光譜測量（LE-5400）●同以往的產(chǎn)品相比，測量演算評價(jià)1個(gè)周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型
高靈敏度近紅外量子效率測量系統(tǒng) QE-5000 參考價(jià)：面議
可以測量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產(chǎn)生量子產(chǎn)率。單線態(tài)氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察可在用于生物應(yīng)用等的水性溶劑中測量。
高感度分光輻射亮度計(jì) HS-1000 參考價(jià)：面議
采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵），0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量，對應(yīng)CIE推薦的寬波長范圍...
量子效率測量系統(tǒng) QE-2100 參考價(jià)：面議
測量精度高可瞬間測量絕對量子效率（絕對量子收率）可去除再激勵(lì)熒光發(fā)光 采用了積分半球unit，實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系統(tǒng)(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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