膜厚量測儀 FE-300 參考價：面議
薄膜到厚膜的測量范圍UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學(xué)薄膜量測儀藉由絕對反射率光譜分析膜厚完整繼承FE-3000高gao端機(jī)種90%的強(qiáng)大功能無復(fù)雜設(shè)定，操...
膜厚測量系統(tǒng) FE-3700/5700 參考價：面議
可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。
線掃描膜厚儀（離線型） 參考價：面議
●全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援●實現(xiàn)高精度測量（已取得專zhuan利）●實現(xiàn)高速測量...
線掃描膜厚儀（在線型） 參考價：面議
●采用線掃描方式檢測整面薄膜●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援●實現(xiàn)高精度測量（已獲取專zhuan利）●實現(xiàn)高速測量●不受偏差影響●可...
紫外分光配光測量系統(tǒng) 參考價：面議
●通過分光光度分布對紫外光進(jìn)行高精度測量●從配光上評估紫外光的最大發(fā)光強(qiáng)度、光束開度、光束光通量●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍●支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)...
紫外分光輻射照度測量系統(tǒng) New 參考價：面議
●該檢測器是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果?！窀采w從紫外線到可見光的寬波長范圍●帶軟件的樣品照明電源，測量儀器...
紫外分光全光譜光通量測量系統(tǒng) 參考價：面議
●具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍●具有紫外線自吸收校正的高精度測量●配備溫度控制單元，可從-110°C進(jìn)行溫度控制●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍●電源...
相位差測量裝置 RETS-100nx New 參考價：面議
采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
液晶層間隙量測設(shè)備 RETS series 參考價：面議
采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
橢偏儀 FE-5000/5000S 參考價：面議
●可在紫外和可見（250至800nm）波長區(qū)域中測量橢圓參數(shù)●可分析納米級多層薄膜的厚度●可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜●通過可變...
總光譜光通量測量系統(tǒng) HM/FM series 參考價：面議
●可處理高達(dá)2400mm的直管光學(xué)總光通量測量●測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn)●采用新的探測器，可以進(jìn)行廣動態(tài)范圍的測量●測量部分的尺寸（積...
彩色濾光片、光刻膠測量裝置 LCF SERIES 參考價：面議
以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
嵌入式膜厚檢測儀 參考價：面議
● 采用分光干涉法● 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（專zhuan利 第4834847號）● 使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng)● 可嵌入至各種制造設(shè)備?！?實時測...
小角激光散射儀 PP-1000 參考價：面議
PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡稱SALS），可以對高分子材料和薄膜進(jìn)行原位檢測，...
多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800 參考價：面議
以最zui高機(jī)型MCPD-9800為首，一共有3種對應(yīng)12波長領(lǐng)域的測量儀。 我們可以根據(jù)客戶的需求和用途提出最適shi合的方案。 不同評價方法對應(yīng)不同設(shè)備
多樣品納米粒子徑測試系統(tǒng)·nanoSAQLA 參考價：面議
nanoSAQLA是一臺通過動態(tài)光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學(xué)系統(tǒng)，實現(xiàn)了...
粒子徑測量系統(tǒng) nanoSAQLA（帶AS50） 參考價：面議
●1個單元可輕松連續(xù)測量5個樣品。●實現(xiàn)了在沒有自動進(jìn)樣器的情況下難以實現(xiàn)的多個樣品的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣品的條件進(jìn)行測量?！駱?biāo)準(zhǔn)測量時間為1分鐘的高...
分光配光測量系統(tǒng) GP series 參考價：面議
●支持長達(dá) 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量●還支持有機(jī)EL和大型顯示器的光分布測量●可以自動控制2軸測角儀測量每個角度的光譜分布，并通過球帶系數(shù)...
分光輻射照度測量系統(tǒng) 參考價：面議
該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 參考價：面議
●非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測●采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性●可進(jìn)行高速的即時研磨檢測●可穿越保護(hù)膜、觀景窗等中間層的檢測●可對應(yīng)長工作距離、且容易安裝...
光波場三維顯微鏡 MINUK 參考價：面議
MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設(shè)備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無損、非接觸、非侵入性地進(jìn)行測量。此外，還可以高速掃描任何表面并確定...
ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE 參考價：面議
本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。
ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSEneoSE 參考價：面議
● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定)● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位● 可以測量從稀薄...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo 參考價：面議
ELSZ series的最zu高級機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進(jìn)行分子量測定的...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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